—— PROUCTS LIST
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- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
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- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
高分子材料高阻計(jì)法原理介紹
大家在日常使用高阻計(jì)檢測(cè)高分子材料的時(shí)候,不了解工作原理,下面我來(lái)為大家介紹一下:
高阻計(jì)法是一種基于歐姆定律擴(kuò)展原理的測(cè)量技術(shù),主要用于精確表征高分子薄膜、絕緣材料等高阻值物體的電學(xué)性能。其核心原理與實(shí)現(xiàn)方式如下:
一、測(cè)量基礎(chǔ)原理
?歐姆定律擴(kuò)展應(yīng)用?
對(duì)試樣施加穩(wěn)定直流電壓(通常為10V–1000V),通過(guò)檢測(cè)流經(jīng)試樣的?微弱電流?(10?1? A)計(jì)算電阻值:
Rx=VIRx=IV
其中 VV 為施加電壓,II 為測(cè)得電流。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)電阻分壓可間接提升計(jì)算精度 ?。
二、消除干擾的關(guān)鍵設(shè)計(jì)
?三電極系統(tǒng)?
?測(cè)量電極?:直接接觸被測(cè)區(qū)域,采集有效電流信號(hào)。
?保護(hù)電極?:環(huán)繞測(cè)量電極,通過(guò)接地(測(cè)體積電阻時(shí))或加壓(測(cè)表面電阻時(shí))?消除邊緣漏電流干擾?,確保電流僅流經(jīng)目標(biāo)路徑 ?。
?高壓電極?:施加可控直流電壓 ?
?四電極法擴(kuò)展?
針對(duì)表面電阻測(cè)量,采用雙環(huán)形電極分離表面與體積導(dǎo)電路徑,避免交叉干擾 ?。
三、微弱電流檢測(cè)技術(shù)
?跨阻放大器(TIA)?:將納安至飛安級(jí)電流轉(zhuǎn)換為可測(cè)電壓信號(hào),核心元件為高增益運(yùn)算放大器與精密反饋電阻 ?。
?屏蔽防護(hù)?:采用三同軸電纜和金屬屏蔽層,環(huán)境電磁噪聲對(duì)微弱信號(hào)的干擾 ?。
四、電阻率自動(dòng)計(jì)算
參數(shù) | 公式 | 關(guān)鍵參數(shù)說(shuō)明 |
?體積電阻率? | ρv=Rv?Sdρv=Rv?dS | SS: 測(cè)量電極有效面積 |
?表面電阻率? | ρs=Rs?ghρs=Rs?hg | gg: 環(huán)形電極間隙寬度 |
五、精度保障要素
?環(huán)境控制?:需在恒溫恒濕環(huán)境(23±2℃, 65±5% RH)中平衡試樣,濕度上升會(huì)導(dǎo)致電阻率顯著降低 ?。
?電壓選擇?:過(guò)高電壓可能引發(fā)離子遷移,建議采用100V–500V分檔測(cè)試,電化1分鐘后讀數(shù) ?。
?幾何校正?:當(dāng)試樣厚度>電極間距40%時(shí),需引入校正因子減小邊緣效應(yīng)誤差 ?。
該技術(shù)通過(guò)精密電流檢測(cè)與電極協(xié)同設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了對(duì)超高阻值材料的可靠量化分析,為絕緣材料開(kāi)發(fā)與電子元件可靠性評(píng)估提供核心數(shù)據(jù)支撐 ?
高分子薄膜高阻計(jì)是用于測(cè)量高分子薄膜材料體積電阻率與表面電阻率的專用儀器,基于直流放大法原理,通過(guò)三電極系統(tǒng)和微弱電流檢測(cè)實(shí)現(xiàn)超高阻值(通常為10?Ω至101?Ω)的精確測(cè)量?13。其核心功能包括:
?測(cè)量原理與系統(tǒng)組成?
?三電極系統(tǒng)?:
?測(cè)量電極?:直接接觸薄膜表面,采集電流信號(hào)。
?保護(hù)電極?:消除表面漏電流(測(cè)體積電阻時(shí)接地)或體積電流干擾(測(cè)表面電阻時(shí)加壓)?。
?高壓電極?:施加直流測(cè)試電壓(10V–1000V可調(diào))。
?歐姆定律擴(kuò)展法?:施加電壓 UU 后,檢測(cè)流經(jīng)試樣的微弱電流 II,通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)電阻計(jì)算電阻值 Rx=(U/U0)?RRx=(U/U0)?R(U0U0 為標(biāo)準(zhǔn)電阻壓降)?。
?自動(dòng)計(jì)算電阻率?:積電阻率?:ρv=Rv?(S/d)ρv=Rv?(S/d),其中 SS 為測(cè)量電極面積,dd 為薄膜厚度。
?表面電阻率?:ρs=Rs?(g/h)ρs=Rs?(g/h),gg 為環(huán)形電極間隙寬度,hh 為電極長(zhǎng)度
??關(guān)鍵性能與技術(shù)參數(shù)?
?量程范圍?:電阻值覆蓋10?–101?Ω,電流檢測(cè)下限達(dá)10?1?A(0.1 fA)?。
?精度與穩(wěn)定性?:誤差≤1%,內(nèi)置屏蔽環(huán)技術(shù)抑制環(huán)境干擾?。
?測(cè)試電壓?:支持10V、50V、100V、250V、500V、1000V多檔位快速切換?。
?適用形態(tài)?:固體薄膜、粉體、膏體及液體材料?。
?操作流程與影響因素?
?試樣預(yù)處理?:
清潔表面(如乙醇擦拭),置于恒溫恒濕環(huán)境(23±2℃, 65±5% RH)平衡24小時(shí)?。
?測(cè)試步驟?:
儀器預(yù)熱30分鐘,校準(zhǔn)零點(diǎn)與滿度值。
選擇電壓(通常100V–500V),電化時(shí)間1分鐘后讀取穩(wěn)定電流值?。
?關(guān)鍵影響因素?:
?溫濕度?:濕度升高或溫度上升將顯著降低電阻率?。
?電場(chǎng)強(qiáng)度?:高壓下離子遷移率增加,導(dǎo)致電阻率下降?。
?表面污染?:吸附雜質(zhì)會(huì)極大影響表面電阻率測(cè)量準(zhǔn)確性?。
?應(yīng)用場(chǎng)景?
?電子工業(yè)?:評(píng)估絕緣材料(如電纜護(hù)套)、防靜電薄膜(如電子產(chǎn)品包裝)的靜電消散能力?。
?新能源材料?:測(cè)試鋰電隔膜、光伏膠膜(EVA/POE)的體積電阻率?。
?科研領(lǐng)域?:分析高分子共混體系(如PP/CaCO?)電學(xué)性能與結(jié)構(gòu)關(guān)系?
注意事項(xiàng)?
?厚度校正?:薄膜厚度 > 探針間距的40%,需引入幾何校正因子以避免誤差?。
?殘余電荷?:測(cè)試前需對(duì)樣品充分放電,防止雜散電勢(shì)干擾?。
高分子薄膜高阻計(jì)是材料電學(xué)性能表征的核心工具,其精確測(cè)量對(duì)保障電子元件可靠性及新材料開(kāi)發(fā)具有重要意義。
電壓擊穿測(cè)試儀,體積表面電阻率測(cè)試儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,漏電起痕試驗(yàn)儀,耐電弧試驗(yàn)儀,TOC總有機(jī)碳分析儀,完整性測(cè)試儀,無(wú)轉(zhuǎn)子硫化儀,門(mén)尼粘度試驗(yàn)機(jī),熱變形維卡溫度測(cè)定儀,簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī),毛細(xì)管流變儀,橡膠塑料滑動(dòng)摩擦試驗(yàn)機(jī),氧指數(shù)測(cè)定儀,水平垂直燃燒試驗(yàn)機(jī),熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀,低溫脆性測(cè)試儀,拉力試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫壓陷硬度測(cè)試儀,海綿泡沫落球回彈測(cè)試儀,海綿泡沫壓縮永九變形試驗(yàn)儀